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/ E/ E1 T! Q. d! D. [# O 原标题:日置阻抗分析仪的基本测量原理 3 [% z8 j" A! L+ x8 j
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日置阻抗分析仪是一种电子测试仪器。它可以测量复数电阻随测试频率的变化。阻抗是表征电子元器件,电子电路和元件材料的一个很重要的参数。另外,阻抗分析可以还被应用到介电材料,比如生物组织,食品和地质样本中。 # R/ m* D8 {% u3 g! q* Z1 u
日置阻抗分析仪的原理是通过相敏检测,同时测量器件在扫频测试过程中的电流和电压。阻抗分析仪的主要参数分别是频率范围,阻抗范围,阻抗幅值的精度和相位精度。更进一步的还包括测量速度,以及在测试中施加电压或者电流偏置的功能 。
% e5 d2 a, Y8 Y& Z ?" i 日置阻抗分析仪测得的阻抗包含阻抗幅值,实部,虚部,以及由电压和电流造成的相位(差)。根据等效电路模型,一些阻抗参数包括电导,电感和电容,即可被轻松的计算并显示出来。
6 u: {+ ^! K. T2 ~( ?% { 阻抗分析仪一般能够提供高精度的阻抗测量,比如0.05%的基本精度,从µHz到GHz的频率范围,从µΩ 到 TΩ的幅值范围, 同时还有10 mdeg 的相位精度。 & ]7 x6 ^/ [$ X I) \
LCR的基本测量原理 * {$ ?! F7 T" e1 e
LCR测试仪是用来测量被称为阻抗的这种物理量的测量仪器。阻抗的符号为"Z",表示的是交流电流流过的困难程度。可以通过流过被测物的电流"I"和两端电压"V"求出。 6 w* M' o( \/ E9 ]) T5 Q
阻抗在作为复平面上的矢量来表示,因此使用LCR测试仪不光测量电流有效值和电压有效值之比,还测量电流波形和电压波形的相位差。 ( o' C; v& V. t. J

% ]0 k/ l. F1 W1 Q7 o6 A) e' l LCR测试仪的测量回路:自动平衡电桥法
" C$ h$ k/ v- O" O* w: x 作为LCR测试仪的测量回路,较多采用的回路方式之一就是"自动平衡电桥法"。有Hc、Hp、Lp、Lc的4端子,并将所有端子连接被测物。回路概略和各端子的功能请参考如下内容。
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将控制频率、振幅的测量信号外加在被测物的发生端子。 3 E( Y$ y: o2 Z
可控制范围为频率几mHz~几MHz,振幅5mV~5V。 ; z1 z3 j, z: ?% @; J
Hp:
' A$ \: w# } u+ @/ n 检测被测物的Hi端电位。检测回路的输入阻抗非常高,无电压下降,能准确进行电位检测。 3 a+ E+ l* W- b, Q
Lp:
- j( e2 O4 ?* A! v% S+ d) y 检测被测物的Lo端电位。
* M- c) Y' F* j- \ Lc:
( G a9 j$ D7 O7 `# S 通过检测电阻将流过被测物的电流进行电压转换并检测。让Lc端子的电位保持为OV。
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▶ LCR测试仪的测量回路:二端子法/五端子法/四端子对法 ; j( \1 V& Y& d& ~5 L
采用了自动平衡电桥法的LCR测试仪,其4端子全都是BNC连接器。为了不让外部干扰混入测量信号或检测信号中,使用了覆盖屏蔽的同轴构造。检测回路的构造一般分为五端子法和四端子对法。
# p) M2 U5 F2 g1 y 可以解决构造最简单的二端子法的不足。
# v X; ~* z/ T& C 二端子法:
" L' x Z/ ^# O! w6 s% n+ W- T" [2 D 和被测物是以二端子来接触的构造。测量值是包含了配线电阻和接触电阻的结果,当被测物为低阻抗时影响会更大。而且,线间存在杂散电容,因此高频下测量或高阻抗测量时,测量信号不光会流过被测物也会流过杂散电容,从而产生误差。
5 g. H5 M! m' D: y* i3 h& {6 @ 五端子法:
% l0 ], P/ g! N/ Z 由于信号电流用电缆和电压检测用电缆是独立分开的,因此可以降低配线电阻或接触电阻的影响。而且,通过使用带屏蔽层的电缆,让屏蔽层之间的电位相同来降低杂散电容的影响。是一种能够降低低阻抗还是高阻抗测量中产生误差的方式。 . J n- x: y% O- e+ g2 ~
四端子对法: . F8 v6 k$ m+ k6 d, ~
降低由测试电流引起的磁场影响,是一种能够降低低阻抗到高阻抗测量中产生误差的方式。通过利用电缆的绝缘层并将正向电流和反向电流相叠加,可以消除所产生的磁场。
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6 o8 ^$ }; X) Q4 v0 u% c 以上文章由安泰测试整理,如果您在选型/使用过程还有什么问题,欢迎登录西安安泰测试https://www.agitek.cn返回搜狐,查看更多 ! ]- s. s, n/ H1 O* V! K# {
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